由致茂文教基金會主辦之第三屆 2026「致茂論文獎」分為「電力電子相關技術」、「半導體測試相關技術」兩大類別進行論文徵稿，主題涵蓋電能轉換、電動車動力系統、散熱、半導體製程瑕疵與關鍵尺寸量測、矽光子與高頻高速數位晶片、設備智能運行與維護、微奈米級精密機械量測與控制、功率元件相關測試技術等八大領域，鼓勵學子積極投入前瞻技術研究，探索創新應用。

國儀中心與中研院張煥正特聘研究員共同指導之國立臺灣大學楊諭欣及國立中正大學康雅婷以「極紫外光、軟 X 光螢光鑽石基底光場分析檢測裝置」投稿，榮獲本屆「半導體測試相關技術」類別佳作，本中心與有榮焉！

第三屆 2026「致茂論文獎」佳作

論文題目：極紫外光、軟 X 光螢光鑽石基底光場分析檢測裝置
作者 (學生)：臺灣大學楊諭欣、中正大學康雅婷  
指導教授：中央研究院 張煥正特聘研究員、國研院國儀中心 楊騰毅、林裕展
參與類別：半導體測試相關技術

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