1999 年 12 月出版
科儀新知 第 113 期
材料電子顯微鏡學專題
電子顯微鏡學最新發展與應用—「材料電子顯微鏡學專題」引言
陳力俊
場發射高分辨電子顯微鏡在揭示原子分辨率晶體缺陷上的應用
李方華
定量高分辨電子顯微學在材料科學中的應用
李斗星, 葉恆強
借助高分辨電子顯微像進行 ν-Al81Cr11Fe8 的 X 射線晶體結構解析
莫志民, 郭可信
0.1 nm 分辨率之電子顯微學
張籃云, 陳福榮, 開執中
利用定量會聚束電子繞射方法研究材料的電子結構
朱靜
電子能量損失譜和影像模式成份對映圖
鮑忠興
用電子顯微術研究晶體的表面
徐統
超導薄膜的電子顯微鏡研究
李林
含銅合金鋼時效析出之電子顯微鏡組織研究
蕭健男, 邱傳聖, 楊哲人, 林永錦
穿透式電子顯微鏡的應用研究—IC 製程導致的晶格缺陷觀察
謝詠芬, 朱志勳, 崔秉鉞
數位相機在生物影像上之應用
林良平